標(biāo)準(zhǔn)列表
開槽無頭螺釘
關(guān)鍵詞：GB/T 878-2007
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了螺紋規(guī)格為M1~M10、性能等級為14H、22H、45H、A1-12H、CU2、CU3和Al4、產(chǎn)品等級為A級的開槽無頭螺釘。
鋯及鋯合金棒材和絲材
關(guān)鍵詞：GB/T 8769-2010
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋯及鋯合金棒材和絲材的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則和標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存及合同（或訂貨單）內(nèi)容等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于鑄錠經(jīng)擠壓、鍛造、軋制、拉伸等工藝生產(chǎn)的鋯及鋯合金棒材和絲材。
鋯及鋯合金鑄錠
關(guān)鍵詞：GB/T 8767-2010
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了直徑不大于820mm的一般工業(yè)和核工業(yè)用鋯及鋯合金鑄錠的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存及合同（或訂貨單）要求等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于真空自耗電弧爐生產(chǎn)的鋯及鋯合金鑄錠。
單水氫氧化鋰
關(guān)鍵詞：GB/T 8766-2013
摘 要：
砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測量方法
關(guān)鍵詞：GB/T 8760-2006
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)適用于位錯(cuò)密度為0--100000個(gè)/CM 的砷化鎵單晶的位錯(cuò)密度的測量。檢驗(yàn)面為[111]面和[100]面。
砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法
關(guān)鍵詞：GB/T 8758-2006
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)適用于砷化鎵外延層厚度的測量，測量厚度大于2UM。要求襯底材料的電阻率小于0.02，外延層的電阻率大于0.1 。
鍺晶體缺陷圖譜
關(guān)鍵詞：GB/T 8756-1988
摘 要：
鋁及鋁合金陽極氧化 陽極氧化膜絕緣性的測定 擊穿電位法
關(guān)鍵詞：GB/T 8754-2006
摘 要：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用擊穿電位法測定鋁及鋁合金陽極氧化膜的絕緣性。本標(biāo)準(zhǔn)適用于以絕緣性能為目的的和以擊穿電位原理制訂工藝規(guī)范的陽極氧化膜。
